1. VDI-Expertenforum „Testen vernetzter Systeme und Komponenten“ hat stattgefunden

9. Oktober 2020 / sysad

In dem von Professor Micheal Weyrich moderierten Expertenforum konnten sich knapp 40 Teilnehmer am 08. Oktober über neue Möglichkeiten des Testens 4.0 und Effizienzsteigerungen durch durchgängige Tests informieren. Komplexe Automatisierungssysteme und deren Komponenten erfordern neuartige Ansätze für den Test und die Absicherung. In zwei Sessions wurden folgende Fragestellungen im Rahmen des virtuell mittels Microsoft Teams durchgeführten Expertenforums diskutiert:

Session 1: Testen 4.0, 10:00 bis 12:00 Uhr

  • Wie können Technologien aus dem Bereich der modularen Industriekomponenten sowie der Verwaltungsschale für das Testen eingesetzt werden?
  • Mit welchen Testschnittstellen kann zukünftig gerechnet werden, um auch komplexeste Industrie 4.0 Systeme zu perfektionieren und Fehler schneller aufzuspüren?

Session 2: Effizienz und Durchgängigkeit von Tests, 14:00 bis 16:00 Uhr

  • Wie können zukünftig Tests so optimiert und fit gemacht werden, um über den gesamten Lebenszyklus von Anlagen und Maschinen einen Mehrwert zu bieten?
  • Wie viel Aufwand bedeutet durchgängiges Testen und mit welchen Mehrbelastungen ist zu rechnen? 

Session 1 behandelte den Themenbereich der Modularen Industriekomponenten und deren Schnittstellen aus der Testperspektive und wurde durch Professor Michael Weyrich mit einer Einführung in die Arbeit des gastgebenden VDI/VDE GMA Fachausschusses 7.25 „Testen vernetzter Systeme für Industrie 4.0“ und in Ansatzpunkte für standardisierte Tests eröffnet. Im Anschluss präsentierte Christoph Kotsch von der BASF SE Konzepte und Fortschritte bei der Modularen Automation mit ModuleTypePackage (MTP) hinsichtlich Testoptimierung durch funktionale Modellierung. Während MTP inhaltlich vor allem ein Engineering-Thema darstellt, adressiert die Verwaltungsschale stärker den Bereich Lebenszyklus. Markus Rentschler von der Balluff GmbH zeigte hierbei Möglichkeiten des Tests von realen Automatisierungskomponenten über die Verwaltungsschale gegen deren Spezifikationsmodelle in seinem Fachvortrag. In der anschließenden Diskussion bezüglich des Einsatzes von MTP und Verwaltungsschale für das Testen wurden das modularisierte Design sowie modellbasierten Testansätzen mittels der von der Verwaltungsschale bereitgestellten Modellen als Kerntechnologien für die Reduzierung von Testaufwand identifiziert.

Die Effizienz und Durchgängigkeit des Tests von Automatisierungstechnik wurde anschließend in Session 2 adressiert, welche von Professor Michael Weyrich mit einer Einführung in die Automatisierung von Tests eröffnet wurde. In seinem Fachvortrag bezüglich Test-orientiertem Requirements Engineering (TORE) erläuterte anschließend Professor Christof Ebert (Vector Consulting Services) die Wichtigkeit agiler Vorgehensweisen im Bereich des Requirements Engineering kritischer Systeme um möglichst früh testbare Anforderungen zu erhalten. Ein wichtiger Beitrag zur Erhöhung der Testbarkeit von aus heterogenen Komponenten aufgebauten Industrieanlagen stellt der in Ihrem gemeinsamen Vortrag von Christian Schleicher von FESTO SE und Manuel Jacob von Steinbeis EST vorgestellte Industrial-Communication Monitor dar. Die Teilnehmer diskutierten anschließend die zunehmende Komplexität und daraus resultierende explodierende Kombinatorik im Bereich des Tests von Automatisierungstechnik. Hierdurch gewinnen Tests in realistischen Umgebungen stark an Relevanz und zukünftig muss hierbei auch der Test in simulierten Szenarien stärker genutzt werden. Gleichzeitig müssen Unternehmen, um auch zukünftig erfolgreich sein zu können, in der Entwicklung und Absicherung agiler werden mit dem Ziel schneller auf spät-entdeckte Fehler reagieren zu können.

Professor Michael Weyrich bedankt sich bei allen Vortragenden und Teilnehmern für die spannenden Diskussionen sowie bei dem Organisationsteam hinter den Kulissen. Vortragende, Teilnehmer und Organisationsteam haben gemeinsam zum Erfolg des 1. VDI Expertenforum „Testen vernetzter Systeme - Verifikation und Validierung von Anlagen und Maschinen für Industrie 4.0“ beigetragen und viele Impulse für die weitere Arbeit des VDI/VDE GMA Fachausschusses 7.25 gesetzt.

 

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